NI PXIe-4135高精度系统源测量单元-云帆兴烨

为PXI系统提供精确的电压或电流源以及测量功能。

PXI源测量单元(SMU)将高精度源和测量能力与旨在减少测试时间、增加灵活性的特性相结合。这些特性包括用于构建并行SMU测试系统的高通道密度、用于最小化软件开销的确定性硬件序列以及用于快速改变设定值和采集数据的高速更新和采样率。此外，PXI SMU灵活的采样率和流盘能力允许您将仪器当做数字化仪使用，以捕获瞬态行为，而数字控制循环则使您能够调整仪器的瞬态响应。改变SMU瞬态特性的能力（称为SourceAdapt）降低了SMU稳定时间，并且即使在高容性负载情况下，也可最小化过冲和振荡。

PXIe，±200 V，3 A，10 fA精密PXI源测量单元—PXIe-4135是一款高精度系统源测量单元(SMU)。该设备采用四象限运行模式，可提供高达20 W的直流电源，并可产生高达500 W的脉冲。结合模数转换器技术和原生三轴连接器，该设备可以以10 fA的电流分辨率或1.8 MS/s的高速采集速率进行高精度测量。该模块还采用了SourceAdapt技术，可根据负载的特性来调整瞬态响应，从而最大限度地提高稳定性和测量精度。PXIe-4135是许多应用的理想选择，包括集成电路(IC)、电源管理集成电路(PMIC)和射频集成电路(RFIC)等器件以及LED和光收发器等分立元件的实验室特性分析、制造测试、板卡级测试。