动态、静态参数测试系统-云帆兴烨

HET-2000D动态参数测试系统-云帆兴烨

动态参数测试系统HET-2000D采用全球最先发布的12 bit 示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数
静态参数测试系统LET-5000系列-云帆兴烨

LET-5000静态参数测试系统是一款测量与分析功率静态参数的专用仪器，为所有类型的功率器件提供静态参数测量解决方案。
Keithley 4200A-SCS动态参数测试仪系统-云帆兴烨

使用4200A-SCS 加快设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
Keithley 4200-SCS型参数特性分析系统-云帆兴烨

4200-SCS系统是用于材料和工艺电气特性分析的完整解决方案
Keithley 2600系列动态参数测试系统-云帆兴烨

开发和使用 MOSFET、IGBT、二极管，需要全面的级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。
Keysight B1505A 动态参数测试系统-云帆兴烨

Keysight B1505A 动态参数测试系统曲线追踪仪是唯一能够对 sub-pA 电平至 10 kV 和 1500 A 进行表征的综合解决方案。
ITC57300动态参数测试系统-云帆兴烨

可在绝缘栅双极晶体管（IGBT），MOSFET，二极管和其他双极之类的半导体器件上执行无损瞬态测量