LET-2000D系列 半导体动态参数测试系统-云帆兴烨

动态参数测试系统硬件优势:

1. 采用全球最先发布的12 bit 示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数

2. 采用全球首先发布的光隔离、高CMRR探头系统，解决SIC/GAN的 测试难点

3. 高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求

4.可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头

5.电压覆盖范围宽、并可以再次扩展

6.器件驱动设计支持SIC/GAN器件

7.系统带宽：>400MHz

8. 系统可以定制

动态参数测试系统软件特点：

 1.测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复参数

 2.支持器件类型多：单管/模块、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

 3.测试方式：单脉冲、多脉冲

 4. 离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据离线分析

 5.测试UI符合工程师的使用习惯

 6.测量项目及器件支持扩展

系统参数：
●  测量电压：标配2000V覆盖650V,1200V,1700V器件的测试。 可升 级到10000V。
●  测量电流：标配200A，覆盖单管、及部分模块的测量。 可升级到6000A。
●  短路电流：2000A
●  测量参数：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  测量项目： 开关参数、短路参数、反向恢复参数、安全工作区等
●  测量器件：单管/模块，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系统带宽：350MHz、500MHz、1GHz
●  测量通道：4CH
●  双脉冲脉宽：最小20ns，最大150us。
●  双脉冲数：单脉冲、2-30脉冲
●  测量依据标准：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173


LET-2000D的应用

 功率半导体的来料检验
 功率半导体的动态参数验证
 实验室的器件评估
 实验室的驱动设计改善
 实验室的PCB设计评估
 功率半导体的生产检验和筛选


测试项目