LET-SP802半导体参数测试系统-云帆兴烨

LET-SP802半导体测试系统是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器，为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。LET-SP802半导体测试系统能实现精确测量、分析功率半导体器件的静态参数。

主要技术指标
 LET_SP802 功耗：150W
电 源：220V/AC 50Hz
环境温度：室温
主要测试器件：二极管、VF、VFM、IGBT、MOSFET其他分立器件及其测试参数可根据具体情况增加。