力科发布高速互连分析仪WavePulser 40iX-云帆兴烨

WavePulser 40iX高速互连分析仪，提供无与伦比的特征洞察力,可同时显示时域和频域细节

Chestnut Ridge, NY, June 4, 2019 ，力科推出WavePulser 40iX高速互连分析仪，这是一种独特的互连测试和验证解决方案。WavePulser 40iX是高速硬件设计人员和测试工程师理想的工具，可用于表征和分析用于高速串行协议的互连和线缆，如PCIExpress，HDMI，USB，SAS，SATA，Fiber Channel，InfiniBand，千兆以太网和汽车以太网。

到目前为止，互连测试和验证在时域和频域测试上被分成两部分，对于前者，信号完整性工程师使用TDR生成阻抗曲线来表征阶跃/脉冲响应，TDR的特点是空间分辨率高，能够精确定位传输线的损伤，并通过阻抗曲线的变化来标注。对于后者，以高动态范围为特征的VNA通常由微波工程师用于测量射频（RF）器件的S参数，当用于高速互连测试时，VNA需要推导出DC响应以及用于时域仿真、time gating和抖动分析的分析工具。两种测试仪器都不能完全满足测试和验证高速互连的设计工程师的需求。

WavePulser 40iX集成了时域和频域表征功能，极大地简化了高速互连测试和验证的过程。在单次采集和单台仪器中，WavePulser 40iX既可以像矢量网络分析仪（VNA）执行完整的S参数频率表征，又可以像时域反射仪（TDR）执行阻抗分析，并提供深度分析功能。WavePulser 40iX可快速自动校准，易于使用，解析物理信号路径的复杂性，准确表征串行数据线缆缆、通道、连接器、过孔、背板、PCB，芯片和SoC封装等。测量的S参数也可用于其他分析，包括timegating、去嵌、眼图、优化的均衡设置、串行数据码型仿真和高级抖动分析。

“WavePulser40iX将时域和频率域整合在一个仪器中，可以检测损伤，如组装不良的连接器、机械损坏的线缆或通道中的不连续位置，”力科信号完整性专家EricBogatin说。“仅使用频域中的S参数就无法检测到这种损伤，因为这些影响在DUT的频率响应中被分散了，但WavePulser 40iX可以轻松识别和定位它们，空间分辨率小于1 mm，它还提供从DC到40 GHz的单端和混合模式S参数测量（可用于仿真）。如果没有WavePulser 40iX，可能需要四种不同的软件工具来测量S参数、去嵌夹具、在时域或频域中显示为单端或混合模式，并模拟眼图。”