是德科技解决方案高速串行互连分析-云帆兴烨

高速串行互连分析

测量挑战

随着数字系统的数据速率不断提高，互连的信号完整性对系统性能的影响也日益扩大。物理层元器件例如印刷电路板走线、连接器、电缆和C封装的影响不能再被忽视。因此，快速精确的时域和频域互连性能分析成为确保系统性能可靠性的关键。由于对多个测试系统进行管理并非易事，所以能够全面表征各种高速数字器件的单一测试系统就成为测试人员的首选工具。

是德科技解决方案

N1930B物理层测试系统（PLTS）

-  自动夹具移除（AFR）可对通道路径中的不必要结构进行精确简单的误差校正和去嵌入

-  通道仿真器提供用户定义的预加重和均衡设置，以进行真正的通道分析

-  MATLAB接口允许定制和自动执行测试，使测试计划开发时间缩短一半

-  表征报告详细介绍了被测器件所有的关键性能参数和特定的测试系统信息，以获得重要的技术测试计划数据

E5071C ENA 选件TDR

-  与传统TDR示波器相似的外观和风格，进行简单直观的操作

-  同时在时域和频域中进行分析，轻松定位损耗、反射和串扰来源

-  仪器的内部保护电路提供更强的防静电放电（ESD）能力

-  为您的链路确定理想的加重和均衡设置

-  通过抖动注入仿真实际信号

-  分析有源器件在实际操作条件下（Hot TDR）的阻抗，以量化多重反射效应