N4392A集成内差探测相干接收机（ICR）测试

集成内差探测相干接收机测试

为了检测复杂的调制光信号，QIF业已定义了一个电光元件，通常被称为集成内差探测相干接收机（ICR）。该元件由光元件和电光元件构成，可作为被测器件。

这种混合元件需要整合所包含的多个元器件，从而作为黑盒相干接收机进行无缝操作。

该集成元件应当在研发和制造阶段接受测试。

N4392A提供选件310和430，以测试此类器件，并提取用于表征该元件特性的参数。

使用N4392A，您将能够在等同于最终应用的环境中对元件执行测试，从而对元件的性能充满信心：

-  N4392A在检测频带中生成差拍信号并发送到ICR光输入端，即可执行这种测试

-  该测试适用于验证ICR在反射噪声减损和所有失真时的固有性能

-  通过一个接近完美的差拍信号生成另一个ICR信号时，IQ和星座图能够显示该信号的噪声与失真用于量化信号质量的相同参数（EVM、IQ偏置、IQ失衡、正交误差）也可用来量化该元件的股友性能

-  在频谱显示中，镜像抑制能够很好地反映在相干接收机中通道与PIN二极管之间的失衡良好的镜像抑制和较高的共模抑制比意味着接收机的平衡性能很高

镜像抑制能够很好的地反映光接收机中的潜在失真。大于35dB的镜像抑制率表明，均衡PIN二极管具有极高的CMRR,且被测ICR的I-Q通道经过了适当的偏移校正。

EVM是考量复杂调制信号整体质量的重要指标。这一概念可应用于上述测试：在ICR中生成一个差拍信号，并采取复杂调制信号的分析方法对其进行分析。这可以仿真ICR的理想激励。通过执行这个测试，您可在被测器件的接收机带宽和数字转换器带宽范围内，对单个频率点上的EVM进行测量。EVM测量可使您进一步分析被测器件，确保每个被测频率点上的无失真测量结果都具有良好的EVM。