可扩展的器件级参数特性测试方案ACS基础版

发表日期:2016/11/17 浏览次数:

吉时利的ACS BASIC系统,能最大程度地提高负责封装器件特性分析的技术人员和工程师在器件研究、开发、质量验证和失效分析等应用中的工作效率。当配合一台或多台2600A2400系列数字源表使用时,ACS BASIC系统便成为强大、简单易用的器件特性分析工具。由于ACS BASIC系统包含了完整的器件参数测试库,因此它能快速、容易地为您提供所需结果,以便于您验证该器件的性能是否符合规格,以及完成相关的检验或质量评估,或者了解新旗舰或新材料的电学特性。

ACS BASIC系统针对简化封装器件的测试流程进行了优化,例如,该基于向导的图形界面会引导您逐步完成器件模型、测试类别和具体测试模块的选择。对于没有更多时间或者不用成为专业测试工程师,但依然需要快速获取器件准确性能得使用者,ACS BASIC系统是非常理想的选择。

l 可定制的硬件配置方案以适用于多种测试环境

l 为器件的特性测试、功能验证和分析应用进行了优化

l 无需编写代码:ACS具有直观的图形界面,能够简单、快速地获取电流-电压测试、分析和结果

l 测试项目高度可移植性:无需任何更改或只用做少量修改,就能使在某一硬件配置系统上创建的测试移植到其他硬件配置的系统上运行

l 测试项目共享:减少重复开发

l 灵活的模块化软件架构便于扩展您的系统并且使系统应用能适应潜在的测试需求

l 免费的后台运行程序能容易地在另一台PC上开发新的测试程序,无需停止正在运行工作的系统

ACS BASIC系统结合了高速硬件控制,器件连接以及数据管理等功能,是用于器件的参数验证,调试以及分析简单易用的工具。

当您需要快速获取封装器件的参数时,ACS BASIC系统基于向导模式的用户接口能够方便地查找和运行您想要的测试,就算这个普通的FET曲线跟踪测试那样。

ACS BASIC系统与传统的图示仪非常相似,能快速产生一系列封装器件的特征曲线,并能灵活、容易地对结果作保存、比较和验证。