R&S FSWP频谱分析仪-云帆兴烨
R&S®FSWP 相位噪声分析仪和 VCO 测试仪结合噪声极低的内部源与互相关技术,具备高灵敏度。它可在数秒内测量雷达等应用中高度稳定的信号源的相位噪声。R&S®FSWP 还具备脉冲信号测量、加性相位噪声(包括脉冲噪声)特性测量以及集成式高端信号与频谱分析等选件,是一款独特的测试仪器。
产品描述
简介
R&S®FSWP相位噪声分析仪和VCO测试仪结合噪声极低的内部源与互相关技术,具备高灵敏
度。它可在数秒内测量雷达等应用中高度稳定的信号源的相位噪声。R&S®FSWP还具备脉冲
信号测量、残余相位噪声(包括脉冲噪声)特性测量和集成式高端信号与频谱分析等选件,是
一款独特的测试仪器。多点触控显示屏确保操作简单直观。嵌入式SCPI记录器可以轻松创建
可执行脚本。
R&S®FSWP相位噪声分析仪和VCO测试仪非常适合雷达应用
测试,还可用于开发和制造合成器、恒温晶体振荡器、介质振
荡器和压控振荡器。仪器可以轻松配置以满足不同的应用要
求。分析仪内置低噪声本振,无需配备其他选件即可测量大部
分商用频率合成器和振荡器。
对于高端应用,R&S®FSWP配备第二个接收通路,可以启用互
相关,灵敏度最高可增加25 dB(取决于所用的互相关次数)。
相较于在鉴相器后对信号进行数字化处理的测试系统,分析
仪具有出色的内部信号源并大量采用数字架构,测试速度更
为快速。
R&S®FSWP可一键测量脉冲源的相位噪声和脉冲信号的残余
相位噪声。分析仪的内部信号源可用于测量残余相位噪声,如
果用户自己有优质振荡器,也可以使用外部信号源。以前这种
测量需要使用由外部信号源、功分器和移相器组成的昂贵且
复杂的系统。
R&S®FSWP不仅可以测量相位噪声,还可用作功能齐全的信号
与频谱分析仪,例如帮助用户确定所需信号是否可用。
R&S®FSWP是一款一体化解决方案,便于用户轻松切换不同的
测量通道。用户可以概览频谱情况,然后进行相位噪声测量。
主要特点
►频率范围为1 MHz至8/26.5/50 GHz,最高325 GHz(使用外部谐波混频器)
►得益于互相关技术和极低噪声内部参考源,为相位噪声测量提供了高灵敏度
–典型值 –174 dBc (1 Hz):1 GHz载波频率,10 kHz偏移
–典型值 –158 dBc (1 Hz):10 GHz载波频率,10 kHz偏移
►同时测量幅度噪声和相位噪声
►一键测量脉冲源的相位噪声
►内部信号源用于测量残余相位噪声,包括测量脉冲信号
►数字架构确保快速的测量速度
►低噪声内部直流源,便于进行VCO特性测量
►自动进行VCO特性测量
►最高8 GHz跳频(瞬态)分析,自动测量稳定时间
►测量阿伦方差
►SCPI记录器简化代码生成
►信号与频谱分析仪及相位噪声分析仪集于一体
–高端信号与频谱分析仪,10 Hz至8/26.5/50 GHz
–显示平均噪声电平(DANL)低至–156 dBm (1 Hz)(无噪声消除),三阶截止点(TOI)高达
25 dBm(典型值),确保具备宽动态范围
–320 MHz信号分析带宽
–总体测量不确定度:< 0.3 dB,最高3.6 GHz;< 0.4 dB,最高8 GHz
测量速度快
非常适用于生产应用
R&S®FSWP相位噪声分析仪和VCO测试仪利用快速处理器和
FPGA即时处理数据。测量时间完全取决于实际需要的时间(数
据采集)。各种测量序列的信号解调和互相关处理无需花费额外时间。
速度在生产应用中尤为关键。高质量内部信号源减少了相
位噪声测量所需的互相关次数,灵敏度比其他类似系统高
10 dB,有效缩短了数据采集时间。R&S®FSWP提供内部信号
源,在测量介质振荡器和恒温晶体振荡器等非常灵敏的振荡
器时所需的互相关次数是其他系统的百分之一。这提高了测
量效率,尤其是在执行近载波测量时,这种情况下数据采集是
决定测量时间的重要因素。
此外,嵌入式SCPI记录器可以轻松创建可执行脚本,在生产应
用中节省了自动化测量的设置时间。
更快的开发速度
缩短测量时间,还可以加快开发流程。R&S®FSWP只需几分钟
即可显示高端振荡器的相位噪声迹线,而之前这种测量通常
需要数小时才能完成。
用户只需几分钟即可测量电路调整(例如在恒温晶体振荡器
上添加新的电容器或电阻器)产生的影响,能够更加简单快速
地开发和优化信号源。
非常灵敏地测量相位噪声和幅度噪声
内部信号源的相位噪声非常低
之前,高端相位噪声测量系统需要使用昂贵的外部信号发生
器作为参考信号源。这些信号发生器或外部信号源的质量限
制了相位噪声测量的灵敏度。R&S®FSWP无需使用外部参考信
号源。仪器内部本振的相位噪声性能几乎优于市面上的所有
可用信号发生器。下表显示了1 GHz条件下内部信号源的灵敏
度典型值。如果需要更高的灵敏度,互相关技术还可进一步将
灵敏度提高25 dB。
通过互相关提高相位噪声灵敏度
为了测量相位噪声非常低的信号源,R&S®FSWP配备第二个
本振(R&S®FSWP-B60或R&S®FSWP-B61选件),以便启用互相
关。灵敏度最高可提高25 dB,具体取决于所用的互相关次数。
互相关次数每增加10倍,R&S®FSWP的相位噪声将降低5 dB。
得益于分析仪的低噪声内部信号源,通常只需少量互相关即
可测量优质振荡器。用户可以更快获得可靠结果,缩短了开发和生产时间。
一键测量脉冲源的相位噪声
简单的测试装置
之前,对于雷达等应用中使用的脉冲源,测量其相位噪声需要
使用非常昂贵和复杂的系统。用户需要非常耐心,并提供准确
的脉冲参数信息,才能确保测量可靠。
R&S®FSWP配备R&S®FSWP-K4选件,能够一键执行此类测
量。R&S®FSWP记录信号,并计算所有脉冲参数。之后,仪器解
调信号,并显示相位噪声和幅度噪声。分析仪几乎能够实时执
行稳定测量。
用户能够一键获取所有结果,从而专注于优化电路设计。
具有高灵敏度(即使存在脉冲退敏)
R&S®FSWP提供互相关和选件来定义脉冲源测量的测试端口(
门控),补偿因脉冲长时间关断导致平均信号功率减小而引起
的灵敏度降低。即使测量脉冲信号的相位噪声,R&S®FSWP也
能提供出色的动态范围。
内部信号源用于测量残余相位噪声,
包括测量脉冲信号
通过互相关提高灵敏度
R&S®FSWP在此操作模式下也使用互相关技术,以便抑制内部
组件的残余相位噪声。分析仪的灵敏度显著优于基于PLL的测
量系统,便于用户开发低噪声发射机,例如用于雷达系统的可
提高定位和时间分辨率的发射机。
脉冲信号的残余相位噪声
配备R&S®FSWP-K4选件时,R&S®FSWP可以测量脉冲信号的
残余相位噪声。
例如,为了测量和优化雷达发射机的组件,必须使用实际条件
下的脉冲信号测试这些组件。放大器在脉冲模式和连续波模
式下的行为显著不同。之前,这种测量只能借助于非常复杂的
测试装置,但R&S®FSWP现可一键执行此类测量。
测量脉冲信号的相位和幅度稳定性
对于检测移动目标的雷达应用,脉冲的相位和幅度必须
非常稳定。这样才能够明确辨别目标和干扰反射。振荡器
和放大器是导致信号不稳定的主要原因。R&S®FSWP配备
R&S®FSWP-K6和R&S®FSWP-K6P选件,能够测量和显示这
些不稳定性。使用内部信号源(R&S®FSWP-B64)时,仪器还
可以测量放大器、电缆和其他双端口组件的残余相位稳定
性。R&S®FSWP的灵敏度可媲美以前昂贵且复杂的测量系
统。3D图显示单个脉冲和多个脉冲序列(脉冲串)的相位和幅
度稳定性,概览更加准确。
信号与频谱分析仪和相位噪声分析仪集
于一体,频率高达50 GHz
简单、成本优化的测试装置
大多数相位噪声分析仪记录鉴相器之后的噪声,然后将其转
换到频域。被测信号的载波不再可见。用户不确定是在正确的
频率下测量,还是在测量无用的杂散信号。用户不清楚测量结
果是否因载波不稳定或漂移太快而出错,或者测量信号和参
考信号源的偏差是否过大。用户需要通过频谱分析仪加以确
定,并且需要检查谐波和杂散发射。
R&S®FSWP相位噪声分析仪和VCO测试仪可以添加
R&S®FSWP-B1选件,轻松升级为集成信号与频谱分析仪功能。
用户可以在另一个测量通道中监测信号,并快速有效地优化
和启动测量,无需额外的复杂线缆连接。这项功能在自动化测
试系统中也非常有用。
投资保障无后顾之忧
通常,缺少足够的实验室应用来单独购买一台相位噪声分析
仪。仪器增加信号与频谱分析仪功能,可以适用于更常在实验
室进行的各种频谱测量,确保了高利用率。这是一项无后顾之
忧的投资,能够切实地减少仪器停机时间。
采用自动测试系统的生产产线无需购买额外的频谱分析仪,
也节省了空间和成本。
高端信号与频谱分析仪
信号与频谱分析仪基于R&S®FSW,具有独特的射频性能和
高灵敏度。分析仪具有低相位噪声,便于用户准确分析调制,
测量具有高动态范围的邻道功率和非常接近载波频率的发
射杂散。内部前置放大器可将显示平均噪声电平(DANL)降
到–165 dBm (1 Hz)以下。附加的噪声消除进一步使DANL接近
理论限值–174 dBm (1 Hz)。R&S®FSWP可采用比灵敏度较低
的频谱分析仪更大的分辨率带宽,能够非常快速地测量发射
杂散。
三阶截止点(TOI)典型值高达25 dBm,提供了宽动态范围,便
于用户测量存在大输入信号时的小输入信号,并确定宽带调
制信号的邻道抑制。
用作信号分析仪时(R&S®FSWP-B1选件),R&S®FSWP使用最
高320 MHz分析带宽(R&S®FSWP-B320选件),并提供基于I/
Q数据的内部选件以进行信号分析。这样能够自动分析脉冲
(R&S®FSWP-K6选件)。R&S®FSWP一键记录宽频段范围内的
数据并计算所有重要的脉冲参数,例如脉冲宽度、上升时间和
脉冲重复率。内部矢量信号分析功能(R&S®FSWP-K70选件)可
用于评估数字调制信号。R&S®FSWP-K7选件适用于模拟调制
信号。用户还可以将I/Q数据上传到计算机并自行分析。
关键特性
► 噪声电平低至–156 dBm (1 Hz)(无噪声消除和前置放大
器),TOI高达25 dBm(典型值),确保具备宽动态范围
► 总体测量不确定度小于0.2 dB(最高3.6 GHz)、小于0.3 dB(
最高8 GHz)
► 1 GHz、100 kHz偏移时相位噪声为–140 dBc (1 Hz)
► 320 MHz信号分析带宽
► 可选内部测量应用
— 脉冲测量(R&S®FSWP-K6/K6S/K6P)
— 矢量信号分析,用于分析单载波数字调制
(R&S®FSWP-K70)
— 调制分析,用于分析单载波模拟调制(调幅、调频、调相)
(R&S®FSWP-K7)
— 噪声系数测量(R&S®FSWP-K30)
— 检测和显示低电平杂散信号(R&S®FSWP-K50)
— 分析跳频信号和线性调频信号
(R&S®FSWP-K60/-K60C/-K60H/-K60P)
测量瞬态或跳频(瞬态分析)
最高8 GHz频率和相位分析带宽
R&S®FSWP具有8 GHz带宽,能够测量一段时间内的频率或相
位特性,以便详细测量开关信号源、合成器跳频和频率斜坡。
是否满足频率要求?切换时间有多长?什么情况下频率处于目
标容差范围内?用户可一键知晓这些问题的答案。
R&S®FSWP不仅支持宽带分析,还提供低至40 MHz的窄带分
析功能以详细分析锁相环的瞬态响应。
表征和优化信号源的整体性能时,时域中的窄带和宽带频率
与相位测量(瞬态分析)非常有用,尤其适用于合成器或频率
捷变系统的设计人员。所有迹线的余晖显示可以估计参数离
散度或是否存在任何异常值。
通过相位或频率偏差进行触发
如要详细检查合成器的瞬态响应,建议通过触发来获得可比
较、可重复的测量结果。除了外部触发或功率触发,用户还可
以通过相位或频率偏差进行触发来进行瞬态分析。实时解调
输入信号可实现这个功能。
用户可以定义频率阈值,仅显示高于或低于指定频率的信号。
分析错误或优化合成器时,这样可以轻松实现有选择性的在
特定跳频进行触发。
分析线性调频连续波信号的线性度
雷达线性调频信号在频域内的线性偏差会显著影响系统性
能,需要进行详细分析。R&S®FSWP可以通过计算用户在触摸
屏上轻松设置的两条评估线间的频率斜率来插入一条参考
线。如下图所示,新窗口显示信号频率和参考线的频率偏差。
自动测量稳定时间
执行触发事件后,R&S®FSWP 自动测量合成器频率达到规定容
差范围内所需的时间。用户可以根据要求定义容差范围,并在
屏幕上显示结果。用户无需配置复杂的限值线和Delta标记功
能。