展会报道|力钛科在《第五届中国电力电子与能量转换大会暨展览会》展示半导体测试方案

2026 年 11 月 5 日至 7 日，第五届中国电力电子与能量转换大会暨展览会（CPEEC & CPSSC 2026）在苏州国际博览中心举行，这是国内电力电子与电源领域规模最大的活动之一。力钛科（LETAK）携 LET-5000 与 LET-2000D 两台设备到场，将静态与动态两条产品线摆在同一张展台上。

01 两条产品线：一条测“能力边界”，一条测“电路表现”

LET-5000 面向静态参数：电压 300V–3500V，可选 8000V 机型；脉冲电流最高 6000A；精度 0.1%，漏电流低至 nA 级，导通电阻测到 μΩ 级，结电容覆盖 10Hz–1MHz。模块化源表配矩阵开关与 LCR，一键切换测试项，夹具覆盖 TO-247、EasyPack、EconoPIM3 等主流封装。

LET-2000D 面向动态参数：母线 5–2000V，可选 4000V/6000V；电流标配 300A，短路电流可达 2000–10000A；采集带宽 500MHz/1GHz，采样率 10Gsa/s，12bit 示波器，系统精度 1.5%。覆盖开关、反向恢复与短路，可选雪崩能量与温度特性，依据 IEC60747-8/-9 与 JEDEC JEP173。

                                                         图1：LET-5000 与 LET-2000D 的定位与关键指标对比

一句话概括分工：静态回答“这颗器件能做到什么”，动态回答“这颗器件在电路里表现如何”。

02 展会现场：问题集中在动态测试

到展台前交流的人大致分三类：高校与科研院所的师生、功率器件企业的研发与产线工程师、电源与电驱系统的设计人员。器件选型与验收、驱动方案验证、波形复核，是他们最常提起的三件事。

三天里被追问最多的，几乎都落在动态测试这一环：光隔离探头如何接入、电压与电流的时序如何保证、驱动板的寄生参数是否影响结果。提问的角度不同，指向的却是同一个问题——如何让测得的波形可信。

03 现场答疑：三个高频问题

Q1 光隔离探头适用于哪些测试场景？与动态测试系统如何适配？

  光隔离探头是功率半导体动态参数测试的专用测量方案，适配动态测试系统，一端接入示波器，另一端连接驱动板的被测测试点，完成高压差分电压信号的高精度采集。

  相比传统高压差分探头，光隔离方案的优势集中几个方面：一是带宽更高，最高可达 1GHz，可满足 SiC、GaN 等第三代半导体的高频测试需求；二是共模抑制比更优，LET-2000D 的光隔离方案 CMRR 最高 160dB，能有效抑制高 dv/dt 场景下的共模噪声，提升浮地电压测量的准确性；三是连接方式更合理，特别是GAN器件的测量，有效减小寄生电感，四是动态范围大，既可以测量小的信号，如mV级别的，也可以测量2000V以上的信号。

Q2 测试过程中，电压电流信号的相位与时序如何保证精度？

 动态开关测试中，电压与电流波形的时序同步由高带宽示波器的同步采样以及时序延迟校准过程机制保证：VGE、VCE、IC 三路信号进入同一台示波器，在 10Gsa/s 的同一时基上采样，再配合探头传输延时校准，确保多通道信号的时序精度，满足开关参数与反向恢复参数的计算要求。

Q3 驱动板寄生电容会影响测试精度吗？产品中如何优化？

驱动板寄生参数是影响动态测试精度的关键因素之一，寄生电容、寄生电感优化是硬件设计的核心环节。

我们的驱动板经过多轮迭代的 PCB 级优化，通过功率回路布局规划、走线密度管控、器件排布优化等设计手段，把寄生电容、电感降到最低，从硬件层面保障测试结果的准确性。精细化的寄生参数控制，也是产品测试精度的核心技术保障之一。

04 写在最后

三天下来最直接的感受：真正有价值的问题，都长在具体的系统上。可当工程师把器件装进自己的板子、接上驱动、看到一条不对劲的波形时，问题才真正出现。

静态与动态不是二选一，而是同一条验证链路上的两段——这也是我们把两台设备摆在一起的原因。

如果您的器件、驱动或 PCB 设计正卡在某条波形上，欢迎带着样品和波形来找我们：样机实测、到厂演示，或先发您对应型号的规格书。

联系电话：0755-86677058；网址：www.letak.com.cn。